臺(tái)式掃描電鏡在建筑領(lǐng)域中的研究
納米材料具有納米級(jí)別尺寸、比表面積大、表面能高等特點(diǎn)，煙臺(tái)FIB電鏡制樣，可用于改性水泥基材料，研究表明：納米材料可以有效地改善水泥、砂漿混凝土的多種性能。
納米材料的尺寸較小，可以填補(bǔ)水泥顆粒間的空隙，從而改善體系的顆粒級(jí)配，可有效改善抗?jié)B性，提高材料強(qiáng)度和耐久性。
掃描電鏡作為一種常見(jiàn)的微觀分析方法，已廣泛應(yīng)用于納米材料改性水泥材料研究中，F(xiàn)IB電鏡制樣中心，可以觀察改性水泥的孔隙率以及納米材料的填充情況。同時(shí)，掃描電鏡也可以觀察納米材料在水泥中的分散情況。
納米材料具有較高的表面活性，導(dǎo)致其顆粒容易發(fā)生團(tuán)聚，分散良好的納米材料相對(duì)于同種未經(jīng)分散的納米材料會(huì)使改性水泥的部分性能表現(xiàn)的更好。因此利用掃描電鏡研究納米材料在水泥基料中的分散具有十分重要的意義。
電鏡在功能材料中的應(yīng)用
電鏡在功能材料中的應(yīng)用掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。它是運(yùn)用聚焦十分窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，F(xiàn)IB電鏡制樣機(jī)構(gòu)，通過(guò)光束合物質(zhì)間的相互作用，來(lái)激發(fā)各種物理信息，F(xiàn)IB電鏡制樣費(fèi)用，對(duì)這些信息收集、放大還有再成像為了達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。如何簡(jiǎn)單快速地得到樣品形貌信息，對(duì)功能材料的研發(fā)具有十分重要的意義。臺(tái)式電鏡具有以下優(yōu)點(diǎn)：1.占地空間小，不需要配備太多額外設(shè)備，對(duì)放置樓層也無(wú)太多要求2.操作簡(jiǎn)單，也無(wú)需操作人員，學(xué)生也可快速上手操作3.速度快，15秒抽真空，30秒成像，短時(shí)間可以完成大量樣品測(cè)試
掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)
為透射電鏡是TE進(jìn)行成像的，這就要求樣品的厚度一定要確保在電子束可以穿透的尺寸范圍內(nèi)。因此就需要通過(guò)各種較為繁雜的樣品制備手段把大尺寸樣品轉(zhuǎn)變到透射電鏡能給接受的程度。
可不可以直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像，成為科學(xué)家追求的目標(biāo)。
通過(guò)努力，這種想法已成為現(xiàn)實(shí)——掃描電子顯微鏡(ScanningElectronicMicroscopy，SEM)。
掃描電子顯微鏡（SEM）——運(yùn)用特別細(xì)的電子束在被觀測(cè)樣品表面上進(jìn)行掃描，通過(guò)分別收集電子束和樣品相互作用產(chǎn)生的一系列電子信息，通過(guò)轉(zhuǎn)換、放大而成像的電子光學(xué)儀器。是探索研究三維表層構(gòu)造很有幫助的工具。
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