反射率測量儀——廣州景頤光電科技有限公司是專門做反射率檢測儀的公司

硅片反射率檢測儀

21世紀的人類搭上了科技飛速進步的快車，濟寧反射率測量儀，生活中許多微量元素都經(jīng)過加工制作成半導體等電子元件。

其中硅片的用途在工業(yè)生產(chǎn)中占著不可或缺的地位，通常被應用于如計算機、電信和電視，還有的應用于***的微波傳送、激光轉(zhuǎn)換系統(tǒng)、診斷和設(shè)備、防御系統(tǒng)和NASA航天飛機等領(lǐng)域。

景頤光電反射率檢測儀是一套全波長380nm-1000nm的光譜分析儀，能快速準確地測量硅片的反射率。

適用于評估硅片的遮蓋力，或金屬化薄膜，陽極氧化鋁或陶瓷的簡單遮光分選任務。

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反射率測量儀注意事項

鏡片反射率測量儀采用了高靈敏的光電轉(zhuǎn)換裝置，后視鏡反射率測量儀，使用時要保證本儀器的光學、電路部分不受外界環(huán)境影響。吸附在探頭中透光玻璃上的灰塵或水汽會影響測量讀數(shù)，要用鏡布及時擦凈。

1、為保證測量精度，測量環(huán)境溫度應接近25°C。儀器應經(jīng)常校準，允許偏差為±0.3，若大于0.3需要新校準?！　?/p>

2、為克服硅光電池的光照疲勞現(xiàn)象，在測試的間隙時間內(nèi)應將探頭放在黑色標準板上面。

3、白色標準版應遠離污染，否則會影響測量精度。如有污漬可用繪圖橡皮除凈。 　

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硅片反射率檢測儀

硅片又稱晶圓片，是由硅錠加工而成的，通過專門的工藝可以在硅片上刻蝕出數(shù)以百萬計的晶體管，被廣泛應用于集成電路的制造。

硅屬于半導體材料，其自身的導電性并不是很好。然而，可以通過添加適當?shù)膿诫s劑來控制它的電阻率。制造半導體前，汽車倒車鏡反射率測量儀，必須將硅轉(zhuǎn)換為晶圓片。

加工硅片生成一個硅錠要花一周到一個月的時間，這取決于很多因素，包括大小、質(zhì)量和終端用戶要求，因此需要反射率檢測儀來測試其是否達到標準。

景頤光電生產(chǎn)的反射率檢測系統(tǒng)采用鹵素燈光源或紫外全光譜光源，光源輸出均勻穩(wěn)定，操作簡便，使用靈活，還可定制工業(yè)在線自動檢測方案。

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