EMMI微光顯微鏡

微光顯微鏡（Emission Microscope， EMMI）是常用漏電流路徑分析手段。對(duì)于故障分析而言，微光顯微鏡（Emission Microscope， EMMI）是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHP（Electron Hole Pairs）Recombination會(huì)放出光子（Photon）。如在P-N結(jié)加偏壓，此時(shí)N阱的電子很容易擴(kuò)散到P阱，而P的空穴也容易擴(kuò)散至N，然后與P端的空穴（或N端的電子）做EHP Recombination。在故障點(diǎn)***、尋找近紅外波段發(fā)光點(diǎn)等方面，微光顯微鏡可分析P-N接面漏電；P-N接面崩潰；飽和區(qū)晶體管的熱電子；氧化層漏電生的光子激發(fā)；Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問(wèn)題.

微光顯微鏡emmi檢測(cè)和emmi分析解說(shuō)

通常第三方檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室用戶對(duì)emmi檢測(cè)需要了解哪些內(nèi)容呢？首先在分析故障的時(shí)候利用微光顯微鏡，它的主要特點(diǎn)是效率非常高，主要偵測(cè)IC內(nèi)部所發(fā)射出來(lái)的光子，在檢測(cè)芯片的時(shí)候由于電子很容易擴(kuò)散到的位置。所以做emmi檢測(cè)通常是非常有必要的。它的主要優(yōu)勢(shì)就是通過(guò)產(chǎn)生亮點(diǎn)的缺陷，能夠接處毛刺從而有效的進(jìn)行分析，可以檢測(cè)不到亮點(diǎn)的情況，然后進(jìn)行排除。同時(shí)利用光誘導(dǎo)的電阻變化能夠準(zhǔn)確的，高速燒錄器價(jià)格，對(duì)于IC元件的短路，或者是互聯(lián)當(dāng)中所出現(xiàn)的空洞來(lái)進(jìn)行檢測(cè)，這樣才會(huì)更加的。

EMMI (Emission Microscopy)是用來(lái)做故障點(diǎn)***、尋找亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合組件(C-CCD)偵測(cè)器，可偵測(cè)組件中電子－電洞再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來(lái)的光子，高速燒錄器設(shè)備，其光波長(zhǎng)在 350 nm ~ 1100 nm，此范圍相當(dāng)于可見(jiàn)光和紅外光區(qū)。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，高速燒錄器，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。







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