First-NanoSystemGmbH2003年創(chuàng)立于德國德累斯頓工業(yè)大學（DresdenUniversityofTechnology）2008年香港成立德國韋氏納米系統(tǒng)（香港）有限公司2015年上海成立德國韋氏納米系統(tǒng)（香港）有限公司中國代表處，負責中國區(qū)業(yè)務2018年深圳正式成立韋氏納米系統(tǒng)（......
| 價格： | 來電議定 |
聯(lián)系時務必告知是在"產品網"看到的
光譜反射儀（SR）系列是一款相對較低成本和操作簡單的工具
SR 系列特征：
光譜反射儀型號：
簡單易操作
***佳系統(tǒng)性能基于***的光學設計
基于陣列的探測器系統(tǒng)保證快速測量
測量薄膜厚度和折射率可達5層
允許在毫秒內獲得反射、透射和吸收光譜
可用于實時或在線厚度，折射率的監(jiān)測
系統(tǒng)具有***的光學常數(shù)數(shù)據庫
***的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質近似（EMA）每個單獨的膜。
可升級到MSP（顯微分光光度計）系統(tǒng)，SRM映射系統(tǒng)，多通道系統(tǒng)，大點的·直接測量圖案或功能結構
適用于多種不同厚度的基材
各種附件可用于特殊配置，如運行曲線測量曲面
2D和3D輸出圖形和用戶友好的數(shù)據管理接口
| SR100 | SR300 | SR500 |
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